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      增強離子遷移譜氣體分析儀

      簡要描述:增強離子遷移譜氣體分析儀可提供達100 FWHM的分辨率,足以分辨異構體成分。SIMS的一大優勢是可以使用環境大氣作為緩沖氣,這一優勢就把使用成本減低為零。 SIMS儀器的離子遷移譜技術通過電暈放電(CD)電離源提升了靈敏度。

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      概述

            增強離子遷移譜氣體分析儀可提供達100 FWHM的分辨率,足以分辨異構體成分。SIMS的一大優勢是可以使用環境大氣作為緩沖氣,這一優勢就把使用成本減低為零。 SIMS儀器的離子遷移譜技術通過電暈放電(CD)電離源提升了靈敏度。除了其他比如無放射性和更高離子產量的優勢之外,我們的技術還提供了電暈放電選擇性反應物離子的產生。除了可供OEM的SIMS引擎,我們還提供可與GC聯用便攜式的PSIMS,可配置正負極性的雙離子遷移光譜儀DSIMS等,以滿足不同的需求。

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      增強離子遷移譜氣體分析儀應用:

      l 過程快速監測

      l VOC/TOC監測

      l 痕量氣體分析

      l 液體分析,固體和表面分析

      l 爆炸物分析

      l 藥品質量控制


      特點

      l 高分辨力和靈敏度

      l 無放射性等離子電離源

      l 可在大氣壓或者次大氣壓下運行

      l 選擇性反應物離子生成

      l 與其他分離技術結合

      l 對所有運行參數的全面控制

      配套的軟件可以快速查看屬于當前操作間的測量點;由于這些點的分析是EIMS完成的,每個測量點的目標氣體都是同步檢測的。對于每個測量點,可以看到上一次測量的值,而當前測量點會突出顯示所在的狀態。此外,還可以查看系統是在手動模式還是自動模式下測量,是在測量樣本還是在后臺階段,自動序列的哪個點正在掃描,以及一個進度條,指示序列的下一步還剩多少。





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